精达专利介绍

2019-08-24    click: 4232

哈尔滨精达测量仪器有限公司近期获得多项发明专利。


1.发明专利：一种消除智能齿轮双面啮合测量仪中“标准齿轮”引入误差的方法:

齿轮双面啮合综合测量”方法控制齿轮精度，以其具有仪器结构简单、

测量效率高、测量结果直观反映齿轮啮合质量等优点，在国内外的齿轮生产中得到上百年的应用。虽然lSO及各国齿轮标准中都规定了齿轮径向综合误差的精度等级，但在实际应用中除注塑齿轮行业外，大部金属齿轮很少以径向综合误差评价齿轮精度等级。这是由于双啮测量在实际应用中很难达到测量结果的重复精度，仪器之间由于结构、测量速度、测力等因素造成测量结果不一致而缺少比对性。同时，虽然双啮测量规定“标准齿轮”比被测齿轮高两个精度等级，但是标齿轮仍存在误差，这样在双啮测量时，标准齿轮与被测齿轮存在峰-谷、谷-峰、谷-谷、峰-峰等各种情况，这种情况造成径向双啮曲线首尾不封闭，每次测量结果相位不同，测量结果Fi″相差0.01～0.03mm之多，fi″由于标准齿轮齿形齿向及相啮合齿轮的相互影响，变化也较大。

哈尔滨精达发明专利 “一种消除齿轮双面啮合测量仪中标准齿轮标准齿轮引入误差的方法” 彻底改变了这种现状，该方法利用计算机数控智能双啮仪的特点，遵循齿轮共轭原理，在不特殊增加高精度标准元件的基础上，达到了以下三个目标：

1）解决了双面啮合测量，高精度标准齿轮的问题，经过标底的和被测齿轮同精度等级的齿轮，可以完全代替高精度标准齿轮；

2）解决了双啮测量结果测量重复精度差的问题，任意相位测量，Fi″、fi″测量重复精在0.001～0.003mm，提高了一个数量级；

3）为利用双啮仪进行齿轮齿厚（“M”值、检测半径等）测量奠定了基础。

2.发明专利：一种齿轮测量中心的直角校准块布局方法、坐标标定方法和调整方法

哈尔滨精达测量仪器有限公司授权发明专利“一种齿轮测量中心的直角块布局方法，坐标标定方法和坐标测量方法”（专利号：201710418135.3），主要包括两个方面的内容，一是在仪器测量行程之外设置间接固定属性的基准块，在仪器更换测头时进行标定的方法，二是利用渐线误差特性，在仪器出厂时确定基准块位置的方法。 

这项技术是精达建立的齿轮测量中心的核心技术之一，从精达生产的第一天齿轮测量中心开始，到目前几千台的市场拥有量，正是该项技术的支撑，解决了齿轮测量中心坐标建立最基础的难题，也是市场反应精达齿轮量仪好用易用的一项关键技术，特别是与早期齿轮测量中心所采用的TESA双向电感测微测头匹配，发挥了最大优势，代表了中国齿轮测量中心的一个时代。

随着技术的进步，采用片簧结构的多维数字测头得到广泛应用，学习了国外齿轮测量中心方式，虽然通过其他方式（如球校对器）预先标定测头数据存盘，建立测头库等方式成为可能，我们也不排斥国外的方式。但精达认为，无论对TESA电感测头，还是我们最新采用的多维数字测头，本专利的方法仍然具有仪器制造和客户操作简单方便，对测头测针制造安装要求低，及时纠正测头误操作造成的测头中心位置变化带来的误差等诸多优点。所以精达将坚持使用这项技术，并进一步提升技术，提高仪器出厂时“基准快”的固有属性的精度。

  虽然该项技术在精达内部应用近20年，但因为该技术仅涉及仪器制造及我公司对用户设备的精度调试。对于任何一个在精达工作过的技术人员甚至生产工人都会使用。但是该技术之前从未对外公开，这也是这次发明专利能够顺利授权的关键所在。
  一些公司挖走精达的人员，带走了精达从仪器结构设计图纸、软件基层基础、生产调式工艺，包括本专利在内的全部技术，理直气壮、肆无忌惮的侵权，恶意竞争，并制造“是非”攻击精达公司。

我们敢说：国内齿轮测量中心行业，以本专利方式组建齿轮测量中心的产品，均是采用的精达技术。

本公司保留以法律程序维护公司利益的权力。

3.发明专利：一种全自动分齿控制齿轮M値测量仪

近年来，由于齿轮测量中心的普及，齿轮的主要误差项目齿形、齿向及齿距得到更好的控制，齿轮加工、测量精度得到较大的提高。



但是随着齿轮精度的提高，很多人认识到齿轮除了以上主要几项精度指标外，齿轮的“齿厚”更是影响齿轮传动质量的一项重要的指标，也就是说齿形、齿向、齿距加工精度提高，并不能完全保证齿轮传动的质量（传动的平稳、噪声、寿命等）的提高。“齿厚”是齿轮的重要参数但并不是齿轮的精度指标，控制“齿厚”是以Fr径向跳动、“公法线”、“M”值（MKD或MKR）等误差项目来间接进行评价的，在早期，这些误差项目是使用简单量具完成测量，效率和精度低不能很好应用。遗憾的是，齿轮测量中心以单测头方式从测量原理上就决定了并不适合解决评价齿厚的几项误差项目的测量（与定义不符，影响因素太多），即使径向跳动可以以左右齿距计算，进而计算出“公法线”，“M”值，但得到的结果往往甚至没有以量具测量的准确，数据只能参考，并不能比对应用。正因为测量手段的原因，感觉行业只重视齿形齿向等精度的提高而有意回避齿厚的控制，但是随着行业的进步，越来越多的客户对齿厚控制提出要求。

我们认为：解决方案有两种方式，一是利用双啮仪通过扩展概念、提升硬件技术，通过“标定”引进“检测半径”的概念评价“齿厚”情况，精达前期发明专利“一种消除齿轮双面啮合测量仪中标准齿轮引入误差的方法”是解决测量一致性技术，是“标定”的前提条件。第二种方法就是本发明专利“一种全自动分齿控制齿轮M值测量仪”的尝试，力图从径向跳动、“M”值的定义出发，利用新的测量原理和最新的控制技术，提供一台全自动、快速的测量仪，作为齿轮测量中心的补充和配套量仪产品，测量更精确，真正为行业齿轮生产水平的提高服务。在这里还想说明一点，本专利测量的是国外早已应用的概念MKR，以MKR作为“M”值的评价相比MKD更为科学，因为半径与齿轮的回转中心相关，MKD是以手动、普通量具测量的，是没有办法的办法。

4.发明专利：一种以齿轮双面啮合测量组建的新型半自动多工位齿轮分选机及其操作方法



精达发明专利 “一种以齿轮双面啮合测量组建的新型半自动多工位齿轮分选机及其操作方法”公开了一种新型半自动分选机，精达推出相应产品JQ型齿轮分选机。该分选机以齿轮双面啮合测量仪为基础，设立圆盘多工位，以完成齿轮的清理、测量、打标等工序，人工上下料（被测齿轮），以电子指示测量结果“合格”、“超差”、“可修”等状态，或进行“M”值分组，与单台齿轮双面测量仪相比，对人员技术要求大大降低，检验人员只要不是“色盲”即可操作。测量效率得到极大提高、操作维护简单。适合批量齿轮生产中的检验，更适合中小齿轮厂家的应用。

5.关于“齿轮测量中心多维式测头”的实用新型和外观专利：

齿轮测量中心多维测头增加“测头功能指示”，通过在测头前端设置LED指示灯，可更清晰、动态、直观表示测量仪工作状态，减少人员在测量过程中被动等待结果的不良感觉，实时监控测量过程，减少误判，避免误操作仪器硬件的损坏，提升整体仪器的造型效果。